• head_banner_01

AEC-Q Automotive Spezifizéierung Verifizéierung

Kuerz Beschreiwung:

AEC-Q ass weltwäit unerkannt als de Premier Test Spezifikatioun fir Automotive-grade elektronesch Komponenten, symboliséiert super Qualitéit an Zouverlässegkeet an der Automobilindustrie. D'AEC-Q Zertifizéierung ze kréien ass entscheedend fir d'Kompetitivitéit vum Produkt ze verbesseren an eng séier Integratioun an de féierende Automotive Versuergungsketten z'erliichteren.


Produit Detailer

Produit Tags

Service Ëmfang

Als déi eenzeg Agentur vun Drëttubidder Metrologie an Test a China, déi Fäegkeeten huet fir komplett AEC-Q100, AEC-Q101, AECQ102, AECQ103, AEC-Q104, AEC-Q200 Qualifikatiounsberichter auszeginn, huet GRGT eng Serie vu zouverléissege Autoritéitsberichter erausginn. Zur selwechter Zäit huet GRGT en Team vun Experten mat méi wéi zéng Joer Erfarung an der Hallefleitindustrie, déi déi gescheitert Produkter am AEC-Q Verifizéierungsprozess analyséieren an d'Firmen mat der Produktverbesserung an der Upgrade no dem Ausfallmechanismus hëllefen.

Integréiert Kreesleef, diskret Hallefleit, optoelektronesch Hallefleit, MEMS Geräter, MCMs, passiv elektronesch Komponenten inklusiv Widderstänn, Kondensatoren, Induktoren a Kristalloszillatoren

Test Normen

AEC-Q100 fir IC haaptsächlech

AEC-Q101 fir BJT, FET, IGBT, PIN, etc.

AEC-Q102 fir LED, LD, PLD, APD, etc.

AEC-Q103 fir MEMS Mikrofon, Sensor, etc.

AEC-Q104 fir Multi-Chip Modeller, etc.

AEC-Q200 Widderstänn, Kondensatoren, Induktoren a Kristalloszillatoren, asw.

Test Elementer

Test Typ

Test Elementer

Parameter Tester

Funktionell Verifizéierung, elektresch Leeschtungsparameter, optesch Parameteren, thermesch Resistenz, kierperlech Dimensiounen, Lawinentoleranz, Kuerzschlusscharakteriséierung, asw.

Ëmweltstress Tester

Héich Temperatur Operatioun Liewen, Héich Temperatur ëmgedréint Bias, héich Temperatur Gate Bias, Temperatur Cycling, héich Temperatur Stockage Liewen, niddereg Temperatur Stockage Liewen, Autoclave, héich beschleunegt Stress Test, héich Temperatur an héich Fiichtegkeet ëmgedréint Bias, naass héich

Temperatur Operatioun Liewen, niddereg Temperatur Betribssystemer Liewen, Pulsatiounsperiod Liewen, intermittierend Betribssystemer Liewen, Muecht Temperatur Cycling, konstante Beschleunegung, Schwéngung, mechanesch Schock, Lëscht, Fein a Brutto Leck, Salz Spraydousen, Tau, Waasserstoff sulfide, fléissendem gemëscht Gas, etc.

Prozess Qualitéit Evaluatioun

Zerstéierend kierperlech Analyse, Klemmstäerkt, Resistenz géint Léisungsmëttel, Resistenz géint Solderhëtzt, Solderbarkeet, Drahtverbindungsschéier, Drahtverbindungszuch, Stierwen, Bleifräi Test, Brennbarkeet, Flamresistenz, Boardflex, Strahllast, asw.

ESD

Elektrostatesch Entladung mënschleche Kierper Modell, Elektrostatesch Entladung gelueden Apparat Modell, Héichtemperatur Latch-up, Raumtemperatur Latch-up


  • virdrun:
  • Nächste:

  • Schreift Äre Message hei a schéckt en un eis