Transmission Electron Microscope (TEM) ass eng mikrophysikalesch Strukturanalysetechnik baséiert op Elektronenmikroskopie baséiert op Elektronenstrahl als Liichtquell, mat enger maximaler Opléisung vun ongeféier 0,1nm.D'Entstoe vun der TEM Technologie huet d'Limite vun der mënschlecher bloussem Aen Observatioun vu mikroskopesche Strukturen staark verbessert, an ass eng onverzichtbar mikroskopesch Observatiounsausrüstung am Halbleiterfeld, an ass och eng onverzichtbar Ausrüstung fir Prozessfuerschung an Entwécklung, Masseproduktiounsprozess Iwwerwaachung, a Prozess Anomalieanalyse am Halbleiterfeld.
TEM huet eng ganz breet Palette vun Uwendungen am Halbleiterfeld, sou wéi wafer Fabrikatiounsprozess Analyse, Chipfehleranalyse, Chip ëmgedréint Analyse, Beschichtung an Ätzen Halbleiterprozessanalyse, asw. Chip Design Firmen, semiconductor Equipement Fuerschung an Entwécklung, Material Fuerschung an Entwécklung, Universitéit Fuerschung Instituter a sou op.
GRGTEST TEM Technesch Equipe Fäegkeet Aféierung
D'TEM technesch Team gëtt vum Dr Chen Zhen geleet, an den technesche Réckgrat vum Team huet méi wéi 5 Joer Erfahrung an de verwandte Industrien.Si hunn net nëmmen räich Erfahrung an TEM Resultat Analyse, awer och räich Erfahrung an FIB Prouf Virbereedung, an hunn d'Fähegkeet 7nm a virun fortgeschratt Prozess wafers an de Schlëssel Strukture vun verschiddenen semiconductor Apparater ze analyséieren.Am Moment sinn eis Clienten iwwerall an der Heemechtslinn Fabriken, Verpackungsfabriken, Chipdesignfirmen, Universitéiten a wëssenschaftlech Fuerschungsinstituter, etc., a si wäit vun de Clienten unerkannt.
Post Zäit: Apr-13-2024