Semiconductor Analyse
-
DB-FIB
Service Aféierung De Moment ass DB-FIB (Dual Beam Focused Ion Beam) wäit an der Fuerschung an der Produktinspektioun iwwer Felder applizéiert wéi: Keramikmaterialien, Polymeren, Metallmaterialien, Biologesch Studien, Halbleiteren, Geologie Service Ëmfang Semiconductor Materialien, organesch kleng organesch Materialien, Hybrid, organesch Materialien, Hybrid net-metallesch Materialien Service Hannergrond Mat dem schnelle Fortschrëtt vun der Hallefleitelektronik an der integréierter Circuit t ... -
Destruktiv Physikalesch Analyse
Qualitéitskonsistenzvum Fabrikatiounsprozessanelektronesch Komponentensinnd'Viraussetzungfir elektronesch Komponenten fir hir Benotzung a verbonne Spezifikatioune z'erreechen. Eng grouss Zuel vu gefälschte a renovéierte Komponenten iwwerschwemmt de Komponentversuergungsmaart, d'Approched'Authentizitéit vun Regal Komponente ze bestëmmen ass e grousse Problem deen d'Komponente Benotzer plagen.
-
Feeler Analyse
Mat der Ofkierzung vum R&D-Zyklus vun der Entreprise an dem Wuesstum vun der Fabrikatiounsskala, sinn d'Produktmanagement a Produktkompetitivitéit vun der Firma mat multiple Drock vun den auslänneschen an auslännesche Mäert konfrontéiert. Wärend dem ganze Liewenszyklus vum Produkt ass d'Produktqualitéit garantéiert, an de nidderegen Ausfallquote oder souguer Null Feeler gëtt eng wichteg Kompetitivitéit vun enger Entreprise, awer et ass och eng Erausfuerderung fir d'Entreprise Qualitéitskontroll.
